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本发明涉及一种并线检测方法、并线检测光学装置及并线检测系统。一种并线检测方法，包括步骤：将内部具有全反射光线的透光件放置于多根切割线组成的线网的一侧；移动透光件直至与线网相接触；线网使透光件的表面发生受抑制的全反射现象，透光件的表面出现明暗...
该专利属于浙江晶盛机电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江晶盛机电股份有限公司授权不得商用。

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