温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种基于反射信号重构的薄层介质参数的方法，适用于含有薄层的分层介质模型，能够解决薄层的时延估计问题，且该方法精度和收敛速度均较高，能够获得更好的薄层参数反演性能，是一种高效准确的反演方法。该方法用于在未知先验信息的情况下，反演地...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。