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具有用于保持半导体器件的闩锁和浮板的半导体测试插座制造技术
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下载具有用于保持半导体器件的闩锁和浮板的半导体测试插座的技术资料
文档序号:34089794
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一种用于预烧测试的半导体器件的测试插座组件,包括基座组件、联接到基座组件的浮板和安装在浮板上用于保持和移动半导体器件的闩锁组件。基座组件还包括用于电联接到半导体器件以进行预烧测试的引脚组件和至少两个直立的挠曲臂。此外,浮板和闩锁组件移动到测...
该专利属于森萨塔科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过森萨塔科技公司授权不得商用。
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