温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种在芯片内部集成电阻电容乘积的时间常数测试电路，包括有源ＲＣ滤波器，ＲＣ有源滤波器与滤波器设计中的各个极点关联的ＲＣ电路结构单元构成的各个单阶ＲＣ中增加可控单元阵列。可控单元阵列为与常规ＲＣ单元连接并且可以改变ＲＣ时间常数的调整...
该专利属于尹登庆所有，仅供学习研究参考，未经过尹登庆授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。