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本发明公开了设备缺陷追溯系统，包括：上料检测设备、加工设备、成品检测设备以及控制系统，物料从上料检测设备上料，通过上料检测设备对物料进行筛选，良品物料送至加工设备进行加工，加工后的成品送至成品检测设备检测是否不良。上料检测设备与加工设备之间...
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