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本发明提供一种并行测试装置和设计方法，包括待测芯片、测试机台、测试板和测试软件单元，所述的待测芯片有n个，并行安装在所述测试板上，所述测试板上设置有n个待测芯片安装位置，保证每个测试芯片的管脚与测试通道连接，从而实现每个测试芯片的管脚与所述...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。

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