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本发明的目的在于提供一种集成电路芯片的测试方法、装置和存储介质，从而可以有效降低集成电路芯片的测试功耗；为达到上述目的，本发明的解决方法是提供一种集成电路芯片的测试方法、装置和存储介质，测试时，测试装置通过初始的移位动作将各寄存器的数据作为...
该专利属于上海寒武纪信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海寒武纪信息科技有限公司授权不得商用。

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