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一种铌酸锂单面抛光片背面不良的返工方法技术
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下载一种铌酸锂单面抛光片背面不良的返工方法的技术资料
文档序号:33994212
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本发明公开了一种铌酸锂单面抛光片背面不良的返工方法,包括如下步骤:将铌酸锂单面抛光片进行检验,将检验出背面不良的晶片进行标记;将标记的晶片放入碱性清洗液中超声清洗;将清洗后的晶片抛光面进行贴膜;将两片贴膜后晶片的贴膜面粘合,获得粘合工件;将...
该专利属于天通控股股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过天通控股股份有限公司授权不得商用。
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