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这里公开了一种温度补偿型晶体振荡器的补偿及测试方法。该方法包含：对振荡器内部ＩＣ寄存器进行初始值写入；在指定温度对ＩＣ各寄存器进行数据采集；根据设定规格要求及数据采集结果计算ＩＣ各寄存器值；将计算出的ＩＣ各寄存器值写入ＩＣ进行温度检测；对测...该专利属于廊坊中电大成电子有限公司;天津必利优科技发展有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过廊坊中电大成电子有限公司;天津必利优科技发展有限公司授权不得商用。