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本实用新型涉及半导体器件测试技术领域，具体涉及一种MEMS压力芯片测试治具。MEMS压力芯片测试治具包括：气仓，具有腔体及分别与腔体连通的进气口、安装口，进气口用于与第一压力气源连通；管座，设置在安装口处并包括基板和多个导电针，多个导电针设...
该专利属于西人马联合测控（泉州）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西人马联合测控（泉州）科技有限公司授权不得商用。

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