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本发明实施例公开了一种平板探测器测试用基板及其测试方法，本发明实施例是对整个测试区域的TFT进行特性测试，相比于现有技术中在探测区域外围的周边区域采用TFT测试键(Teg)进行TFT特性测试，本发明可得到真实有效的AA区TFT的I
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