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本发明针对现有的基于推扫式高光谱成像仪的检测系统成像速度慢，现有的传统机器学习模型无法充分表达高光谱特征的问题，公开了一种基于视频高光谱成像技术的产品质量实时无损检测方法。主要包括：使用质量检测仪器进行产品的理化性质检测；搭建硬件平台，使用...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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