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微集成电路大规模测试系统，包含：第一测试区，包含多个测试垫以及多个读取垫，设置于划线上；多个测试控制器逐行设置于划线上；探针，经配置接触第一测试区以测试多行集成电路芯片；每一个测试控制器经配置逐行测试对应的每一行集成电路芯片；其中，探针仅接...
该专利属于财团法人工业技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过财团法人工业技术研究院授权不得商用。

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