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本申请提供的测试板及测试系统，其中，所述测试板应用于集成在待测板上的待测芯片进行测试，所述待测板上设置有与所述待测芯片连接的测试连接器，所述测试板包括依次连接的测试座、连接器和串行外设接口；所述连接器与所述测试连接器可拆卸地连接；所述串行外...
该专利属于加特兰微电子科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过加特兰微电子科技（上海）有限公司授权不得商用。

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