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本申请涉及晶片测试的领域，尤其是涉及一种可精确定位的测试座，其包括：测试座本体、设于该测试座本体上的浮动板、以及设于该测试座本体侧边的侧推装置；该侧推装置具有可相对于该测试座本体水平移动的侧推元件，以及对该侧推元件施加作用力的施力元件，其中...
该专利属于苏州艾方芯动自动化设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州艾方芯动自动化设备有限公司授权不得商用。

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