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本发明涉及集成电路领域，具体涉及一种针对多时钟域集成电路中单固定故障模型的捕获方式。本发明对可测性设计(DFT)中的扫描技术中故障捕获方式进行优化，通过对不同时钟域的OCC电路测试阶段扫描链配置数据的改变，使得原本Merge NCP法中不相...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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