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本发明涉及数据存储技术领域，提供了一种芯片内部SRAM测试方法、装置、存储介质及SSD设备，该方法包括：将芯片固件运行的物理地址区域重映射到芯片内部的静态随机存取存储器SRAM以外的物理地址区域；接收到测试机发送的开始测试指令时，清空所述S...
该专利属于北京得瑞领新科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京得瑞领新科技有限公司授权不得商用。

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