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本申请提供的一种消除缺陷定位误差的方法，获取缺陷检测状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第一距离，及缺陷剔除状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第二距离，第一距离不等于第二距离；标定位置M和标定位置N标记在薄膜上用于记录薄膜的长度；...
该专利属于凌云光技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过凌云光技术股份有限公司授权不得商用。

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