一种消除缺陷定位误差的方法技术

本申请提供的一种消除缺陷定位误差的方法，获取缺陷检测状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第一距离，及缺陷剔除状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第二距离，第一距离不等于第二距离；标定位置M和标定位置N标记在薄膜上用于记录薄膜的长度；在缺陷剔除状态下，根据第一距离、第二距离和修正次数确定薄膜的修正系数；在缺陷剔除状态下，根据薄膜的待移动距离确定薄膜上缺陷X的位置，薄膜的待移动距离是通过缺陷剔除状态下薄膜的当前位置、缺陷检测状态下缺陷X的位置、修正系数和薄膜的标定起点位置确定的。本申请消除薄膜在复卷机(即缺陷剔除状态)下拉伸等原因导致的缺陷定位误差，提高复卷机停机的准确性。提高复卷机停机的准确性。提高复卷机停机的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种消除缺陷定位误差的方法


[0001]本申请涉及薄膜缺陷定位
，尤其涉及一种消除缺陷定位误差的方法。

技术介绍

[0002]薄膜材料在分切机上进行质量检测，在质量检测的过程中记录检测到的缺陷和缺陷位置，存在缺陷的薄膜材料需要通过复卷机定位并剔除缺陷。
[0003]目前，在复卷机上剔除缺陷之前，需要将薄膜材料复卷后确定缺陷的位置，复卷机上缺陷的位置是根据分切机上的缺陷位置确定。如图1，表示在分切机和复卷机两种不同状态下的同一段薄膜材料，分切机上检测到薄膜材料上的缺陷B和缺陷C，在复卷机复卷后，一般根据缺陷B的位置确定在复卷机上的对应位置b，根据缺陷C的位置确定在复卷机上的对应位置c；由于薄膜材料的性质使其通过复卷机时存在拉伸等，导致缺陷位置发生改变，实际上缺陷B的位置在复卷机上变为位置b
′
，缺陷C的位置在复卷机上变为位置c
′
；复卷机上薄膜材料的缺陷位置改变导致在复卷机上缺陷的定位存在误差，使得在剔除缺陷时复卷机停机不准。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种消除缺陷定位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种消除缺陷定位误差的方法，其特征在于，包括：获取缺陷检测状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第一距离，以及缺陷剔除状态下所述薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第二距离，所述第一距离不等于所述第二距离；所述标定位置M和所述标定位置N标记在所述薄膜上，用于记录所述薄膜的长度；在所述缺陷剔除状态下，确定所述薄膜的修正系数，所述修正系数根据所述第一距离、所述第二距离和修正次数确定；在所述缺陷剔除状态下，根据所述薄膜的待移动距离确定所述薄膜上缺陷X的位置，所述薄膜的待移动距离是通过缺陷剔除状态下所述薄膜的当前位置、缺陷检测状态下缺陷X的位置、所述修正系数和所述薄膜的标定起点位置确定的。2.根据权利要求1所述的一种消除缺陷定位误差的方法，其特征在于，当修正次数为1时，所述薄膜的修正系数，按照下式计算获得：式中，为所述薄膜在缺陷剔除状态下的修正系数，d1为缺陷检测状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第一距离，d2为缺陷剔除状态下所述薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第二距离。3.根据权利要求1所述的一种消除缺陷定位误差的方法，其特征在于，当修正次数大于1时，确定所述薄膜的修正系数，包括：在所述缺陷剔除状态下，确定所述薄膜每次修正的修正系数，所述每次修正的修正系数按照下式计算获得：式中，为所述薄膜在缺陷剔除状态下的第i个修正系数，d1为缺陷检测状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第一距离，d2为缺陷剔除状态下所述薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第二距离；确定所述薄膜的修正系数，按照下式计算获得：式中，为所述薄膜在缺陷剔除状态下的修正系数；为所述薄膜在缺陷剔除状态下的第i个修正系数，n为修正次数。4.根据权利要求3所述的一种消除缺陷定位误差的方法，其特征在于，当所述修正次数大于3时，确定所述薄膜的修正系数，包括：在所述缺陷剔除状态下，确定所述薄膜每次修正的修正系数，所述每次修正的修正系数按照下式计算获得：式中，为所述薄膜在缺陷剔除状态下的第i个修正系数，d1为缺陷检测状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第一距离，d2为缺陷剔除状态下所述薄膜上标定位置M和标
定位置N之间的第二距离；确定所有的修正系数的和，按照下式计算获得：式中,sum为去掉最大修正系数和最小修正系数后的其他修正系数之和，为所述薄膜在缺陷剔除状态下的第i个修正系数，n为修正次数；确定所述薄膜的修正系数，按照下式计算获得：式中，为所述薄膜在缺陷剔除状态下的修正系数。5.根据权利要求1所述的一种消除缺陷定位误差的方法，其特征在于，所述根据所述薄膜的待移动距离确定所述薄膜上缺陷X的位置的步骤，包括：获取缺陷剔除状态下所述薄膜的标定...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐永，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：