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本发明公开一种串口闪存芯片测试系统和测试方法，在一具体实施方式中，该测试系统包括：上位机、可编程逻辑控制单元和载板；其中，载板上布置有用于承载待测芯片的检测工位；上位机连接所述可编程逻辑控制单元以及载板上的各检测工位，用于根据测试需求动态配...
该专利属于苏州华兴源创科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华兴源创科技股份有限公司授权不得商用。

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