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电容式感测NAND存储器中的感测线结构制造技术
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文档序号:33764510
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本申请涉及电容式感测NAND存储器中的感测线结构。存储器单元阵列可包含:数据线;源极;在所述数据线和所述源极之间串联连接的多个通过门;多个单元列结构,其各自具有与相应多个经串联连接场效应晶体管串联连接的相应多个经串联连接非易失性存储器单元,...
该专利属于美光科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过美光科技公司授权不得商用。
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