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本实用新型公开了一种功率半导体器件在线结温预估系统。本系统采用器件单个关断过程中的能量损耗作为结温预测的特征参数，实现结温的在线预测，为器件的可靠性分析提供支持和保障。系统包括：器件电压
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该专利属于上海大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海大学授权不得商用。

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