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本发明提供了用于内存控制器的环回测试技术的系统、装置和方法。内存控制器其可以包括环回测试电路，其可以包括：第一多路复用器，其具有耦合到输入缓冲器的输出的第一输入和耦合到来自内存控制器的第一数据输出的第二输入；反相器，其耦合到输入缓冲器的输出...
该专利属于英韧科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过英韧科技（上海）有限公司授权不得商用。

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