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本发明提供一种基于电容变化的产品检测系统及方法，包括电容采集单元、MCU控制单元、电源控制单元、电源开关、测试单元、测试开关和开关控制单元，本发明通过电容采集单元通过单根连线或单点接触采集本该与其连接的待测产品的寄生电容，经过MCU控制单元...
该专利属于合肥创发微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥创发微电子有限公司授权不得商用。

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