基于电容变化的产品检测系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种基于电容变化的产品检测系统及方法，包括电容采集单元、MCU控制单元、电源控制单元、电源开关、测试单元、测试开关和开关控制单元，本发明专利技术通过电容采集单元通过单根连线或单点接触采集本该与其连接的待测产品的寄生电容，经过MCU控制单元计算后判断是否有待测产品插入，并在未插入时控制电源控制单元不输出电压给待测产品，并且测试单元和开关控制单元也不会工作，从而有效地避免热插拔现象的情况，能够有效地防止由于接触不稳定，造成电流异常，导致产品损毁，有效地提高产品测试通过率。测试通过率。测试通过率。

【技术实现步骤摘要】
基于电容变化的产品检测系统及方法


[0001]本专利技术涉及产品测试
，具体为一种基于电容变化的产品检测系统及方法。

技术介绍

[0002]触摸屏目前广泛应用于手持电子产品中，越来越多的手机、平板电脑等电子产品采用触摸屏作为显示屏幕，在触摸屏或相关模组产品生产完成后，工厂需要对所生产的触摸屏进行检测，从而甄别出合格的触摸屏，在触摸屏检测过程中，需要对触摸屏供电，并连接上测试设备进行测试，从而根据测试的结果进行甄别。
[0003]在触摸屏或相关模组产品生产测试时，通常采用热插排的方式对相关产品进行测试，以及在测试完成后不断电拔出，在待测产品插入和拔出的时候，由于接触不稳定，电流异常，导致产品损毁，降低产品测试通过率，目前的检测系统还不能很好地解决这个问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种基于电容变化的产品检测系统及方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0006]基于电容变化的产品检测系统，包括：<br/>[0007]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于电容变化的产品检测系统，其特征在于，包括：电容采集单元(1),所述电容采集单元(1)和待测产品电性连接，用于测量待测产品的电容值数据，并将测量的数据发送至MCU控制单元(2)；MCU控制单元(2),所述MCU控制单元(2)和电容采集单元(1)电性连接，用于对电容采集单元(1)测量的数据进行处理比较，并在超出阈值时控制电源控制单元(3)、开关控制单元(4)和测试单元(5)进行工作；电源控制单元(3),所述电源控制单元(3)控制端与MCU控制单元(2)电性连接，输出端与待测产品电性连接，用于在MCU控制单元(2)的控制下对待测产品进行供电；电源开关(4),所述电源开关(4)串联在电源控制单元(3)和待测产品之间的连接电路中，用于开闭电源控制单元(3)对待测产品的供电回路；测试单元(5),所述测试单元(5)控制端与MCU控制单元(2)电性连接，输出端与待测产品电性连接，用于在MCU控制单元(2)的控制下对待测产品进行测试；测试开关(6)，所述测试开关(6)串联在测试单元(5)和待测产品之间的连接电路中，用于开闭测试单元(5)对待测产品的测试回路；开关控制单元(7),所述开关控制单元(7)和MCU控制单元(2)、电源开关(4)和测试开关(6)电性连接，用于在MCU控制单元(2)的控制下操纵电源开关(4)和测试开关(6)开闭。2.根据权利要求1所述的基于电容变化的产品检测系统，其特征在于：所述电容采集单元(1)包括集成运算放大器(101)、充电开关(102)、抗干扰电容(103)、抗干扰电阻(104)，所述集成运算放大器(101)的反向输入端与待测产品电容的非接地端电性连接，同相输入端的输入电平为Vref，所述集成运算放大器(101)的反向输入端的输入电平为V1，所述充电开关(102)串联在集成运算放大器(101)的反向输入端的和电平V1端之间，所述抗干扰电容(103)一端连接集成运算放大器(101)的反...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭晓璋，孙林，
申请(专利权)人：合肥创发微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：