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本发明提出了一种芯片外观不良识别方法和系统，所述方法包括：在芯片进入电性能检测装置之前的传送装置上，对准备进行电性能检测的待测芯片进行扫描和第一次自然数编码；在电性能检测装置的过程中，将所述存在不良外观标定识别码及所述存在不良外观标定识别码...
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