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本发明提供了一种产品外观缺陷检测的最优分块方法、检测方法及系统，涉及电子制造的技术领域，最优分块方法首先利用基于分块的缺陷检测算法根据设置的分块参数对产品外观图片分别进行块级缺陷检测，将检测结果与外观缺陷真实类别进行对比，确定检测结果的分类...
该专利属于广东工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过广东工业大学授权不得商用。

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