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本发明实施例公开了一种测试校准方法、装置、设备以及存储介质，其中该方法，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，所述方法包括：在所述成像设备中，确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定...
该专利属于浙江宇视科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江宇视科技有限公司授权不得商用。

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