测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种测试校准方法、装置、设备以及存储介质，其中该方法，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，所述方法包括：在所述成像设备中，确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置；根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合；当不重合时，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数。如此，能够保证待测设备镜头光轴中心与Chart图中心对齐的准确性，提升后续测试效果。测试效果。测试效果。

【技术实现步骤摘要】
测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及成像设备测试技术，尤指一种测试校准方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着相机、摄像机等成像设备分辨率需求不断提高，保证图像质量成为了每个成像设备生产商必须要做的步骤。为了检测成像设备的图像清晰度与分辨率，在对成像设备进行测试的过程中，可以使用光学测试图Chart对成像设备的图像清晰度与分辨率等进行检测。
[0003]测试Chart是检测图像清晰度与分辨率的重要图像质量因子，例如，在图像分辨率以及调焦测试中，使用测试Chart进行测试需要满足Chart图中心与待测设备镜头光轴中心在一条直线上的要求。
[0004]为满足上述要求，目前主要采用激光校准方案，即借助激光笔或其他激光装置手动校准待测设备镜头光轴中心与Chart图中心对齐，确认对齐后开始实际测试，再根据人工观察效果不断调整距离与方向。该激光校准方案，由于是手动校准待测设备镜头光轴中心与Chart图中心对齐，无法保证待测设备镜头光轴中心与Chart图中心对齐的准确性，从而会影响后续本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试校准方法，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，所述方法包括：在所述成像设备中，确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置；根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合；当不重合时，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数；其中，所述第一图像为所述待测设备镜头拍摄所述测试图得到的图像；所述第二图像为所述测试图全部内容充满所述成像设备成像全屏形成的图像；所述校准参数用于校准所述待测设备镜头的位置，以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置，包括：确定所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置；根据每个定位块中心点所在的位置，确定所述第二位置。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置，包括：确定每个定位块的图像特征；根据每个定位块的图像特征，计算该定位块中心点所在的位置。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述至少两个定位块中的每一个定位块的中心点位于以预定角度穿过所述测试图中心的直线上；所述至少两个定位块中的任意两个定位块各自的中心点分别位于通过所述测试图中心的不同直线上；所述根据每个定位块中心点所在的位置，确定所述第二位置，包括：针对每一个定位块，以其对应的预设角度穿过定位块中心点形成一条直线；确定形成的全部直线的相交点；根据所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置计算所述相交点所在的位置；将所述相交点所在的位置作为所述第二位置。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置，包括：根据所述第一图像在长度方向上的第一分辨率值对应的第一点数值，确定所述第一点数值的一半数值对应的行坐标；根据所述第一图像在宽度方向上的第二分辨率值对应的第二点数值，确定所述第二点数值的一半数值对应的列坐标；将所述行坐标和所述列坐标所表示的位置作为所述第一位置。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少两个定位块中的至少一个定位块的至少一个边框与所述测试图的长边框和/或短边框重...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾文彬，王岩，
申请(专利权)人：浙江宇视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：