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本发明公开了一种类单晶晶体品质评估方法及系统，该方法包括：获取类单晶晶体开方后得到的多个晶体块的头料和尾料；对获取到的多个头料和多个尾料的横截面分别进行PL检测；将多个头料和多个尾料对应的PL检测结果按照预设方向进行原位置拼接，对应得到晶体...
该专利属于包头阿特斯阳光能源科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过包头阿特斯阳光能源科技有限公司授权不得商用。

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