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本发明涉及一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法，属于功率密度测量技术领域，解决现有技术标定的量多误差大的测量问题，方法包括：选择非线性介质作为高功率微波测量用吸波材料板，开启待测高功率微波源，对吸波材料板进行照射，控制待测高功率微波...
该专利属于北京机电工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京机电工程研究所授权不得商用。

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