【技术实现步骤摘要】
一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法
[0001]本专利技术属于功率密度测量
，尤其涉及一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法。
技术介绍
[0002]目前对于高功率微波的功率密度的测量方法一般基于天线接收法，采用在高功率微波辐射面架设接收天线，并连接示波器、接收机或频谱仪的方法进行高功率微波功率密度的测量，其基本原理是利用辐射喇叭将高功率微波向空间辐射，在辐射远场用接收喇叭接收辐射场的很小一部分功率，经检波后用标定过的示波器测量其功率，然后通过换算求出辐射总功率。这种技术和方法的缺点主要有以下几点：1)需要标定的量多；2)由于1)的原因，误差不可避免的增大。
技术实现思路
[0003]鉴于上述的分析，本专利技术旨在提出一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法，解决上述问题中的至少一个。
[0004]本专利技术的目的主要是通过以下技术方案实现的：
[0005]一方面，本专利技术提供了一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法，包括：
[0006]第一步，选择非...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于红外成像的高功率微波功率密度测量方法，其特征在于，包括：选择非线性介质作为高功率微波测量用吸波材料板，开启待测高功率微波源，对吸波材料板进行照射，控制待测高功率微波源照射时间，确保吸波材料板对高功率微波能量的热转换并通过红外成像仪对达到热平衡的吸波材料板进行热成像；根据吸波材料板的反射系数、比热容、吸波材料板的密度、吸波材料板的厚度、高功率微波占空比以及高功率微波...
【专利技术属性】
技术研发人员：周春燕，孙月刚，孙建亮，吕雪峰，
申请(专利权)人：北京机电工程研究所，
类型：发明
国别省市：
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