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本申请涉及一种芯片管脚测试系统，通过检测待测芯片管脚的第一电流以及与待测芯片相同情况下参照芯片管脚的第二电流，根据第一电流与第二电流之间的对比结果来判断待测芯片管脚工作是否异常，并非仅通过检测芯片管脚的反向导通电压来判断芯片管脚是否异常，在...
该专利属于深圳市广通远驰科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市广通远驰科技有限公司授权不得商用。

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