芯片管脚测试系统技术方案

本申请涉及一种芯片管脚测试系统，通过检测待测芯片管脚的第一电流以及与待测芯片相同情况下参照芯片管脚的第二电流，根据第一电流与第二电流之间的对比结果来判断待测芯片管脚工作是否异常，并非仅通过检测芯片管脚的反向导通电压来判断芯片管脚是否异常，在即使检测到反向导通电压的情况下可根据检测到的电流情况准确判断芯片管脚是否异常，从而实现精准确定芯片管脚的工作状态。精准确定芯片管脚的工作状态。精准确定芯片管脚的工作状态。

【技术实现步骤摘要】
芯片管脚测试系统


[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片管脚测试系统。

技术介绍

[0002]目前检查芯片某管脚是否损坏，都是将万用表拨到二极管档，测量芯片管脚的PN结反向导通电压，通常测量到反向导通电压，则认为芯片管脚正常未发生损坏；若未测量到反向导通电压，则认为芯片管脚发生损坏。但实际用万用表即使测量到了反向导通电压，也并不能说明芯片管脚工作正常，由此经常会遇到测量到了反向导通电压，但是芯片管脚工作仍然不正常的现象。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种芯片管脚测试系统，以解决如何精准检测芯片管脚是否异常的问题。
[0004]本申请提供了一种芯片管脚测试系统，包括：
[0005]电压源电路，用于分别为参照芯片和待测芯片提供变化电压，其中，所述变化电压为动态变化的电压；
[0006]采样电路，与所述电压源电路相连，用于采集所述参照芯片在所述变化电压激励下输出的第一电流，以及所述待测芯片在所述变化电压激励下输出的第二电流；
[0007]主控模块，与所述采样电路相连，用于根据所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片管脚测试系统，其特征在于，所述系统包括：电压源电路，用于分别为参照芯片和待测芯片提供变化电压，其中，所述变化电压为动态变化的电压；采样电路，与所述电压源电路相连，用于采集所述参照芯片在所述变化电压激励下输出的第一电流，以及所述待测芯片在所述变化电压激励下输出的第二电流；主控模块，与所述采样电路相连，用于根据所述第一电流和所述第二电流的比对结果，确定所述待测芯片的管脚状态。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：开关电路，与所述电压源电路、所述参照芯片和所述待测芯片相连，用于在第一开关状态下将所述电压源电路输出的所述变化电压提供至所述参照芯片，在第二开关状态下将所述变化电压提供至所述待测芯片，其中，所述第一开关状态用于使所述电压源电路与所述参照芯片相连，所述第二开关状态用于使所述电压源电路与所述待测芯片相连。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述系统还包括限流电路，所述限流电路的第一端与所述电压源电路相连，所述限流电路的第二端与所述开关电路相连，用于对所述变化电压进行分压处理后再提供至所述参照芯片和所述待测芯片。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述开关电路包括第一开关和第二开关，所述第一开关的第一端与所述限流电路相连，所述第一开关的第二端与所述参照芯片相连，所述第二开关的第一端与所限流电路相连，所述第二开关的第二端与所述待测芯片相连。5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述采样电路包括；取样电路，与所述参照芯片、所述待测芯片相连；模数转换电路，与所述取样电路、所述电压源电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：马百晖，
申请(专利权)人：深圳市广通远驰科技有限公司，
类型：新型
国别省市：