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本发明属于热电离质谱仪技术领域，具体涉及一种点样装置，用于热电离质谱仪的样品的制备，包括设有若干样品支架孔位的机箱(14)，每个样品支架孔位能够插入一个设有样品的样品支架(13)，其中的任意几个样品支架孔位上插入样品支架(13)均能够进行样...
该专利属于中国原子能科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国原子能科学研究院授权不得商用。

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