【技术实现步骤摘要】
一种点样装置
[0001]本专利技术属于热电离质谱仪
,具体涉及一种点样装置。
技术介绍
[0002]点样装置用于热电离质谱仪样品制备。将样品支架插入点样装置,旋转一定角度使样品支架上的金属带面处于水平后固定,将样品微液滴点在在金属带表面,对点样装置通电后使样品蒸干固定。现有点样装置主要存在以下问题:
[0003](1)最多可插入6个样品支架,样品制备效率较低;
[0004](2)样品支架插孔接触件内置,无法在手套箱内维修;
[0005](3)样品支架需按顺序插入,且当样品支架没有插满时,需采用额外的一段导线插入剩余插孔的两端使其电路连通,否则无法正常通电蒸发;
[0006](4)当中间某个插孔接触出现问题时,需多段导线连接。
技术实现思路
[0007]针对现有的点样装置的弊端,本专利技术的目的是提供一种新型的点样装置,该点样装置能够在其上的样品支架孔位中任意插入样品支架,即使有样品支架孔位没有插入样品支架或者出现故障,仍然能够完成样品的蒸干,并且还能够对样品支架孔位在手 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种点样装置,用于热电离质谱仪的样品的制备,其特征是:包括设有若干样品支架孔位的机箱(14),每个所述样品支架孔位能够插入一个设有所述样品的样品支架(13),其中的任意几个所述样品支架孔位上插入所述样品支架(13)均能够进行所述样品的制备。2.如权利要求1所述的一种点样装置,其特征是:所述样品支架孔位水平排列设置在所述机箱(14)上,每个所述样品支架孔位由一个接触嵌件(4)和一个拨动开关(6)构成;所述接触嵌件(4)设置在所述机箱(14)的前面板(2)上,用于插入所述样品支架(13)进行所述样品的制备;所述拨动开关(6)设置在所述机箱(14)的后面板(3)上,用于在所述接触嵌件(4)处于不工作状态时控制电流通过并进入相邻的所述样品支架孔位;所述接触嵌件(4)的不工作状态包括故障或者没有插入所述样品支架(13)。3.如权利要求2所述的一种点样装置,其特征是:所述接触嵌件(4)内部设有一对样品支架插孔(10),用于插入所述样品支架(13);所述样品支架插孔(10)内部嵌套有插针端子(12),所述插针端子(12)与所述机箱(14)的内...
【专利技术属性】
技术研发人员:应浙聪,熊超杰,
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院,
类型:发明
国别省市:
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