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本发明公开了LED封装芯片检测装置及检测方法,包括底板,底板顶部固定连接有工作台,工作台顶部一侧固定连接有储料箱,工作台内部且位于储料箱的下方开设有滑槽,滑槽内部滑动连接有导料板,导料板内部开设有料槽,导料板内部且位于料槽的一侧对称开设有让...该专利属于江苏国中芯半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏国中芯半导体科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开了LED封装芯片检测装置及检测方法,包括底板,底板顶部固定连接有工作台,工作台顶部一侧固定连接有储料箱,工作台内部且位于储料箱的下方开设有滑槽,滑槽内部滑动连接有导料板,导料板内部开设有料槽,导料板内部且位于料槽的一侧对称开设有让...