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公开一种显示基板的缺陷检查方法。显示基板的缺陷检查方法包括如下步骤：拍摄显示基板的图像；提取所述图像的X轴分布；提取所述图像的Y轴分布；以所述X轴分布及所述Y轴分布为基础来生成线跟踪信息；以所述线跟踪信息为基础来获取所述显示基板的构成要素的...
该专利属于三星显示有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过三星显示有限公司授权不得商用。

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