专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
长鑫存储技术有限公司
>
半导体结构及半导体结构的制造方法技术
>技术资料下载
下载半导体结构及半导体结构的制造方法的技术资料
文档序号:33547414
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明实施例提供一种半导体结构及半导体结构的制造方法,半导体结构包括:基底;位于所述基底上的栅极结构,所述栅极结构包括依次层叠设置的第一导电层、阻挡层和第二导电层;其中,所述第一导电层包括第一多晶硅层、第一金属层和第二多晶硅层,且所述第一多...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。