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本申请公开了一种芯片的测试电路、方法以及测试系统，芯片的测试电路基于测试机发送的测试信号对芯片进行测试；该测试电路包括：开关、电感以及负载电容；开关的第一端连接测试机的第一电源或第二电源，开关的第二端连接芯片的电压输入端；电感的第一端连接测...
该专利属于上海艾为电子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海艾为电子技术股份有限公司授权不得商用。

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