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本申请公开了一种芯片测试系统及方法，其中，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模...
该专利属于中国科学院深圳先进技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院深圳先进技术研究院授权不得商用。

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