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本发明提供了基于β射线分析技术的颗粒物检测方法，具体为：不含颗粒物的零气进入采样管并穿过滤膜；同时，β射线穿过滤膜，获得计数的平均值I0；进入采样管的待测气体中颗粒物被滤膜截留；同时，获得多个时间段内计数的平均值I
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该专利属于聚光科技（杭州）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过聚光科技（杭州）股份有限公司授权不得商用。

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