基于β射线分析技术的颗粒物检测方法技术

本发明专利技术提供了基于β射线分析技术的颗粒物检测方法，具体为：不含颗粒物的零气进入采样管并穿过滤膜；同时，β射线穿过滤膜，获得计数的平均值I0；进入采样管的待测气体中颗粒物被滤膜截留；同时，获得多个时间段内计数的平均值I

【技术实现步骤摘要】
基于
β
射线分析技术的颗粒物检测方法


[0001]本专利技术涉及颗粒物检测，特别涉及基于β射线分析技术的颗粒物检测方法。

技术介绍

[0002]β射线法是大气颗粒物自动监测的一种推荐方法，可用于测量大气中的TSP、PM10、PM2.5等颗粒物浓度。基于该技术的监测装置利用抽气泵将一定流量的大气进行连续抽取，通过指定切割器将目标气体中不同粒径的颗粒物进行筛选。经过筛选的气体通过采样室被室内的滤纸带富集，之后滤纸带移出采样室下侧，然后用β射线照射富集颗粒物的滤纸带，此时β射线由于被颗粒物吸收从而导致强度衰减，而β射线的衰减量和穿过的吸收物质的量呈一定比例，可以通过射线衰减量来反演富集颗粒物的浓度。
[0003]现有的基于β射线法的监测装置具有如下几点不足：
[0004]1.一般测量周期为1小时，无法实现实时测量，对滤纸带的利用率低，且即使缩短采样时间压缩测量周期，也会由于总抽气量变小导致数据波动变大；
[0005]2.走纸精度要求高，走纸误差会对测量带来偏差；
[0006]3.由于存在走纸动作，空白本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于β射线分析技术的颗粒物检测方法，其特征在于，所述基于β射线分析技术的颗粒物检测方法为：通过切换，不含颗粒物的零气进入采样管，并穿过滤膜；同时，放射源发出的β射线穿过处于采样管下侧的滤膜，探测器计数，获得计数的平均值I0；通过切换，待测气体进入采样管，待测气体中的颗粒物被滤膜截留；同时，放射源发出的β射线穿过富集有颗粒物的滤膜，探测器计数，获得多个时间段内计数的平均值I
i
，i＝1,2
···
N；根据每个时间段内计数的平均值、所述平均值I0以及该时间段内的待测气体体积得到该时间段内的颗粒物含量；在所述滤膜富集待测气体中颗粒物的同时，放射源发出的β射线穿过富集有颗粒物的滤膜，探测器计数，获得时间段[T1，T2]内与多个时间点t
i
分别对应的计数值A
i
，i＝1,2
···
M，获得计数值A
i
与时间点t
i
的映射关系A＝f(t)；根据所述映射关系计算得到时间段[T1，T2]内任意二个时间点t
′1、t
′2处的计数值...

【专利技术属性】
技术研发人员：周海波，刘逵，盛伟明，胡扬俊，沈兴超，保长先，胡喆，任鑫，刘贝，赵紫薇，
申请(专利权)人：聚光科技杭州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：