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提供了一种用于以光谱方法分析样品的光谱测定系统。所述系统包括：用于与所述样品相互作用的激发源；用于检测所述样品吸收或发射的至少一部分光的检测器，所述激发源和检测器经由光路光学耦合；以及位于所述光路中的孔，所述孔用于限制光从所述激发源到所述检...
该专利属于安捷伦科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安捷伦科技有限公司授权不得商用。

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