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本实用新型公开了一种半导体材料自动翻面装置，属于半导体材料性能参数测试技术领域，半导体材料自动翻面装置设于测试平台上方，测试平台上方还设有半导体材料测试工作台，半导体材料自动翻面装置与半导体材料测试工作台相邻设置，所述半导体材料自动翻面装置...
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