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本实用新型公开一种测试电路板,适用于测试BGA SSD,该测试电路板包括基板和电源模块;所述基板至少包括层叠设置的布线层和导电层,所述布线层上设有第一导电通孔组和第二导电通孔组,所述第一导电通孔组和所述第二导电通孔组通过所述导电层电导通;所...该专利属于深圳佰维存储科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳佰维存储科技股份有限公司授权不得商用。
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本实用新型公开一种测试电路板,适用于测试BGA SSD,该测试电路板包括基板和电源模块;所述基板至少包括层叠设置的布线层和导电层,所述布线层上设有第一导电通孔组和第二导电通孔组,所述第一导电通孔组和所述第二导电通孔组通过所述导电层电导通;所...