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本发明公开了一种清洗装置、清洗系统及清洗方法,涉及化学机械抛光技术领域,在精确控制清洗装置所包括的清洗刷组件作用在晶圆不同待清洗区域上的清洗压力的情况下,降低对晶圆表面的欠清洗和/或过清洗的风险。该清洗装置应用于化学机械抛光后的晶圆的清洗,...该专利属于真芯(北京)半导体有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过真芯(北京)半导体有限责任公司授权不得商用。
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本发明公开了一种清洗装置、清洗系统及清洗方法,涉及化学机械抛光技术领域,在精确控制清洗装置所包括的清洗刷组件作用在晶圆不同待清洗区域上的清洗压力的情况下,降低对晶圆表面的欠清洗和/或过清洗的风险。该清洗装置应用于化学机械抛光后的晶圆的清洗,...