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本发明公开了一种获取样品未成对电子绝对自旋数目的方法，该方法包括：测试点状样品在谐振腔内不同位置的第一电子顺磁共振信号，得到谐振腔空间分布函数；测试校准样品在谐振腔内的第二电子顺磁共振信号强度，得到谐振腔校正因子；测试待测样品在谐振腔内的第...
该专利属于国仪量子（合肥）技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国仪量子（合肥）技术有限公司授权不得商用。

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