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本发明公开了一种基于无监督学习的MicroLED缺陷检测方法，涉及缺陷检测领域，该方法利用完成图像预处理的正常样本图像和异常样本图像对残差卷积自编码器模型进行模型预训练，所述残差卷积自编码器模型包括基于残差卷积模块构成的编码器和基于残差转置...
该专利属于利晶微电子技术（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过利晶微电子技术（江苏）有限公司授权不得商用。

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