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本发明公开了一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统，该检测系统利用太赫兹波较强的穿透性、非电离辐射特性、对龋病组织的敏感性以及龋病组织和健康组织的高对比度响应差异特性，实现了现有技术中难以做到的，对位置隐蔽、难以检测的早期釉质龋进行非电离辐...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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